Vorlesung 14

Lukas Kristoffer Schwarz
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Lukas Kristoffer Schwarz
Diese Lernkarten bieten einen Überblick über fortgeschrittene Verfahren und Analysemethoden der Materialwissenschaft und Technik an der Universität. Sie behandeln spektroskopische Techniken wie XPS, FT-IR und Ellipsometrie, sowie Methoden zur Plasmonenanregung und Brewsterwinkelmikroskopie. Die Karteikarten erklären die Funktionsweise und Anwendung dieser Techniken, einschließlich der Messung von Licht, Elektronen und Strahlung, sowie die Analyse von Proben und Komponenten. Ideal für Studierende und Forscher, die tiefe Einblicke in moderne Analysemethoden benötigen.
Karten
25
Lernende
1
Sprache
Deutsch
Kategorie
Technik
Stufe
Universität
Erstellt / Aktualisiert
11.04.2013 / 11.04.2013

Lernkarten

Welche Wellenlänge hat der rote Helium-Neon-Laser?

632,8nm

Welche Komponenten muss ein Ellipsometer zwingend enthalten (4 Komponenten)?

  1. Lichtquelle
  2. Kompensator (Polarisation, Probe)
  3. Analysator
  4. Detektor

Was bedeuten die Messgrössen ψ und Δ bei der Ellipsometrie?

Ψ: Neigungswinkel der Ellipse

Δ: Ellipzität der Ellipse

Wodurch erhält man bei der Ellipsometrie die Information über die Probe?

Man bestimmt die Änderung des Polarisationszustandes von Licht bei reflexion oder transmission

Welche zusätzliche Komponente braucht man für die abbildende Ellipsometrie?

Detektor (Mikroskopobjektiv zusammen mit CCD-Kamera)

Was kann man mittels der Brewsterwinkelmikroskopie beobachten?

Direkte Betrachtung von ultradünnen organischen Filmen auf dielektrischen Substanzen

Welcher EInfalsswinkel muss bei der Brewsterwinkelmikroskopie eingestellt werden?

Einfallswinkel = Brewsterwinkel

Was sind Plasmonen?

Kollektive Oszillatoren von Leitungsbandelektronen in Metallen und Halbleitern

Wie muss das Licht polarisiert sein, um Plasmonenanregung zu erreichen?

p-polarisiert

In welchem WInkelbereich kann man eine Plasmonenanregung erreichen?

Einfallswinkel leicht über dem kritischen Winkel für Totalreflektion

Was ist die PLasmonenbedingung?

Einfallender Wellenvektor kx = Plasmonenwellenvektor kVektor

Was ist die Messgröße bei der klassischen Plasmonnenspektroskopie?

Anteil des reflektierten Lichts

Was ist die typische Schichtdicke der Goldschicht bei der Plasmonenspektroskopie?

50nm

Welche Materialeigenschaften werden durch die IR-Spektroskopie vermessen?

Charakteristische Schwingungen von Bindungen und Molekülen

Nennen Sie mindestens drei verschiedene Arten von IR-Spektroskopie.

  1. Transmission
  2. Reflektion und Absorption (IRAS)
  3. Diffuse Reflektion
  4. Abgeschwächte Totalreflektion (ATR-IR)

Was ist der wesentliche Bestandteil eines FT-IR Spektrometers?

Computer

Welche mathematische Vorgehensweise berechnet bei der FT-IR Spektroskopie das optische Spektrum?

Fourier-Transformation

Wofür steht die Abkürzung XPS (englisch und deutsch)

X-ray photoelectron spectroscopy

Röntgen-Photoelektronen-Spektroskopie

Welches ist die einfallende Strahlung bei einer XPS-Messung?

Röntgenstrahlung

Welches ist die ausfallende Strahlung bei einer XPS-Messung?

Photoelektronen

Was sind die vier Hauptkomponenten eines REM?

  1. Zylinderförmige Einheit, innerhalb derer der Elektronenstrahl erzeugt wird
  2. Probekammer
  3. Detektoren um die unterschiedlichen Signale aus Wechselwirkung Elektronen-Probe zu detektieren
  4. Visualisierungseinheit welche Detektorsignale in optisches Bild wandelt (Computer)

Was sind die beiden wichtigsten Wechselwirungen zwischen Probe-Elektronen bei Elektronenmikroskopie?

  1. Rückstrahlelektronen
  2. Sekundärelektronen

Nennen Sie die beiden typischen Trocknungsverfahren bei der Präparation von Zellen für das REM

  1. Kritisch-Punkt-trocknen (CPD)
  2. Gefriertrocknen

Welche fünf Präparationsschritte müssen vor der Betrachtung von Zellen im REM gemacht werden?

  1. Zellkultur
  2. Fixierung
  3. Dehydrierung
  4. Trocknung
  5. Beschichtung

Wofür steht die Abkürzung FIB?

focussed ion beam etching

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