Vorlesung 12

Lukas Kristoffer Schwarz
Lernen

Lukas Kristoffer Schwarz
Diese Lernkarten bieten einen Überblick über Verfahren und Analysemethoden der Mikroskopie und Rasterkraftmikroskopie (AFM) auf Universitätsniveau. Sie behandeln grundlegende Konzepte wie Lichtmikroskopie, numerische Aperatur, Auflösung und verschiedene Messgrößen wie Tunnelstrom (STM) und Van-der-Waals-Kräfte (AFM). Die Karteikarten erklären auch spezifische Modi wie Kontaktmodus, Tapping-Modus und deren Anwendungen. Ideal für Studierende der Technik, die sich mit mikroskopischen Analysemethoden vertraut machen möchten.
Karten
24
Lernende
1
Sprache
Deutsch
Kategorie
Technik
Stufe
Universität
Erstellt / Aktualisiert
11.04.2013 / 11.04.2013

Lernkarten

Nennen Sie zwei Methoden zur mechanischen Schichtcharakterisierung.

  1. Innere Schichtspannung: optisches Prinzip zur Messung der Oberflächenform
  2. Flatscan: Charakterisierung von Stufen (Profilometermessung)

Wofür steht die Abkürzung AFM? Nennen Sie den englischen Begriff und die deutsche Übersetzung.

Atomic force Mikroskop

Rasterkraftmikroskopie

Was ist die Messgröße beim AFM?

Van der Waals Kräfte zwischen Spitze und Probe

Welche Art von Materialien kann man mit dem AFM abbilden?

  1. Polymere
  2. Keramiken
  3. Glas
  4. Biologische Proben
  5. Dünne Filme
  6. Isolatoren
  7. Metalle

Wodurch wird die Höhe der AFM Spitze verfolgt?

Detektor misst die Auslenkung während Spitze über Oberfläche scannt wird mittels Laser und Reflektion

Nennen Sie drei Betriebsarten des AFM

  1. Contact-mode
  2. Noncontact-mode
  3. Tapping-mode

Nennen Sie mind. 2 Probleme, die zu Abbildungsfehlern beim AFM im Kontaktmodus führen

  1. Laterale Scherkräfte
  2. Materialabrieb

Was sind die beiden Messgrößen beim Tapping-Mode AFM?

Amplitude und Phase

Welcher AFM-Modus erreicht atomare Auflösung?

Welche Materialien können bei einem Rastertunnelmikroskop (STM) abgebildet werden?

  1. Leitende- und halbleitende Materialien

Was ist die Messgröße beim STM?

Tunnelstrom zwischen einer metallischen Spitze und einer leitenden Oberfläche

Nennen Sie zwei mögliche Modi beim STM.

  1. Konstanter-Strom-Modus
  2. Konstante-Höhe-Modus

Was ist das klassische Limit bei der Lichtmikroskopie? Wie sieht die zugehörige Formel aus?

Maximale Auflösung abhängig von der verwendeten Wellenlänge:

d = Lambda/2n sin alpha

d = Abstand zwischen zwei Punkten

Lambda: Wellenlänge des Lichts

n = Brechungsindex

2alpha: Winkelbereich indem das Licht gesammelt wird

Wo liegt ca. das Auflösungsvermögen der klassischen Lichtmikroskopie?

200nm

Welche Bereiche können durch die optische Nahfeldmikroskopie erreicht werden?

50nm

Wofür steht die Abkürzung SECM?

Scanning electrochemical microscopy

Was ist die Messgröße beim SECM?

Faradayscher Strom in einer Elektrolytlösung

Was versteht man unter Interferenz (optisch)?

Lichtwellen interagieren miteinander

Entstehung des klassischen INterferenzmusters (verstärkung und auslöschung)

Was versteht man unter Absorption (optisch)?

Licht kann mit Materie interagieren

Was versteht man unter der nummerischen Aperatur?

Charakterisiert den Winkelbereich in dem das System Licht akzeptiert oder emmitieren kann

Optische Mikroskopie: Benennen Sie die beiden vergrössernden Elemente

Objektiv und Okular

Wie setzt sich bei optischem Mikroskop die Gesamtvergrößerung zusammen?

Produkt aus Objektiv- und Okularvergrößerung

Was versteht man unter einer leeren Vergrößerung?

Vergrößerung über die Auflösung hinaus (ca. 500x bis 1000x der nummerischen Aperatur); hohe Objektvergrößerung erniedrigt die Lichtintensität

Durch welche drei Charakteristika kann man die Köhler-Beleuchtung beschreiben?

  1. Diffuses Licht als Beleuchtungsquelle
  2. Ausleuchtungsbereich so gering wie möglich um Sreulicht zu minimieren
  3. Benutzung der gesamten numerischen Aperatur des Objektives

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