Verfahren und Analysemethoden der MST
Vorlesung 7
Vorlesung 7
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Lukas Kristoffer Schwarz
Lukas Kristoffer Schwarz
Diese Lernkarten bieten einen umfassenden Überblick über Verfahren und Analysemethoden der Mikrosystemtechnik (MST) auf Universitätsniveau. Sie decken Themen wie CVD-Prozesse, Lithographie, Schichtabscheidung und Prozessführung ab, einschließlich spezifischer Methoden wie LPCVD, APCVD, PECVD und ALD. Die Karteikarten erklären Abkürzungen, Prozesse und deren Parameter, sowie die Vor- und Nachteile verschiedener Techniken. Sie richten sich an Studierende und Forscher, die sich mit der Herstellung und Analyse von Mikrosystemen befassen und ein tiefes Verständnis der zugrunde liegenden Prozesse benötigen.
Flashcards
44
Students
1
Language
German
Category
Technology
Level
University
Created / Updated
11.04.2013 / 11.04.2013
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Flashcards
Zählen Sie die fünf Teilschritte beim Spin-on Prozess zur Aufbringung eines Photolacks auf.
- Montage des Substrats auf Chuck
- Aufbringen des Mediums im Überschuss
- Vorschleudern bei nieedriger Drehzahl (800rpm)
- Schleudern bei hoher Drehzahl (4000rom)
- Entfernen und trocknen des Substrats
Welche Lackdichte hat der Photoresist AZ5214 bei einer maximalen Drehzahl von 4000rpm in einem Spin-on Prozess?
1,4µm
Was sind die beiden Hauptparameter, die die Schichtdicke des Resists beim Spin-on Prozess bestimmen?
- Viskosität
- Drehzahl
Welche Probleme können bei der Lithographie auftreten (5)?
- Verunreinigung durch Partikel
- Verunreinigung durch gelöste Gase
- Kondensation von Feuchtigkeit
- Variation der Viskosität
- Zeitverzug