Verfahren und Analysemethoden der MST
Vorlesung 12
Vorlesung 12
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Kartei Details
| Karten | 24 |
|---|---|
| Sprache | Deutsch |
| Kategorie | Technik |
| Stufe | Universität |
| Erstellt / Aktualisiert | 11.04.2013 / 11.04.2013 |
| Lizenzierung | Kein Urheberrechtsschutz (CC0) |
| Weblink |
https://card2brain.ch/box/verfahren_und_analysemethoden_der_mst10
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Nennen Sie zwei Methoden zur mechanischen Schichtcharakterisierung.
- Innere Schichtspannung: optisches Prinzip zur Messung der Oberflächenform
- Flatscan: Charakterisierung von Stufen (Profilometermessung)
Wofür steht die Abkürzung AFM? Nennen Sie den englischen Begriff und die deutsche Übersetzung.
Atomic force Mikroskop
Rasterkraftmikroskopie
Was ist die Messgröße beim AFM?
Van der Waals Kräfte zwischen Spitze und Probe
Welche Art von Materialien kann man mit dem AFM abbilden?
- Polymere
- Keramiken
- Glas
- Biologische Proben
- Dünne Filme
- Isolatoren
- Metalle
Wodurch wird die Höhe der AFM Spitze verfolgt?
Detektor misst die Auslenkung während Spitze über Oberfläche scannt wird mittels Laser und Reflektion
Nennen Sie drei Betriebsarten des AFM
- Contact-mode
- Noncontact-mode
- Tapping-mode
Nennen Sie mind. 2 Probleme, die zu Abbildungsfehlern beim AFM im Kontaktmodus führen
- Laterale Scherkräfte
- Materialabrieb
Was sind die beiden Messgrößen beim Tapping-Mode AFM?
Amplitude und Phase
